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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 发表日期：2015    专题：安徽大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Modulation of charge trapping and current-conduction mechanism of TiO2-doped HfO2 gate dielectrics based MOS capacitors by annealing temperature 期刊论文 Journal of Alloys and Compounds, 2015, 卷号: Vol.647, 页码: 1054-1060 作者:  X.F. Chen;  Z.Q. Sun;  H.S. Chen;  J.W. Zhang;  R. Ma 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/04/22 High-k  gate  dielectrics  TiO-doped  HfO  Puttering  Current-conduction  mechanism   Determination of optical constant and electrical properties of sputtering-derived HfTiON gate dielectrics 期刊论文 Journal of Alloys and Compounds, 2015, 卷号: Vol.646, 页码: 10-15 作者:  Z.Q. Sun;  H.S. Chen;  Y.M. Liu;  J.W. Zhang;  P.H. Wang 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/04/22 HfTiON  films  Nitrogen  concentration  Electrical  properties  Leakage  current  density   Effects of boron incorporation on the structural, optical and electrical properties of sol–gel-derived ZrO2 gate dielectrics. 期刊论文 Journal of Alloys & Compounds, 2015, 卷号: Vol.649, 页码: 1273-1279 作者:  Jin,P.;  Sun,Z.Q.;  Zhang,M.;  Zheng,C.Y.;  Chen,X.F. 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/04/22 Boron  incorporation  Conduction  mechanisms  Electrical  properties  High-k  gate  dielectrics  Optical  constant  Sol–gel   Band offsets in HfTiO/InGaZnO4 heterojunction determined by X-ray photoelectron spectroscopy 期刊论文 Journal of Alloys and Compounds, 2015, 卷号: Vol.642, 页码: 172-176 作者:  J.G. Lv;  X.F. Chen;  Z.Q. Sun;  Y.M. Liu;  K.R. Zhu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/04/22 Band  offset  HfTiO/InGaZnO  heterojunction  X-ray  photoelectron  spectroscopy  Thin  film  transistors   Modification of band offsets of InGaZnO4/Si heterojunction through nitrogenation treatment 期刊论文 Journal of Alloys and Compounds, 2015, 卷号: Vol.647, 页码: 1035-1039 作者:  J.G. Lv;  X.F. Chen;  Z.Q. Sun;  P.H. Wang;  X.S. Chen 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/24 Band  offset  InGaZnO/Si  heterojunctions  X-ray  photoelectron  spectroscopy  Thin  film  transistors