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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2014     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Damage-free back channel wet-etch process in amorphous indium-zinc-oxide thin-film transistors using a carbon-nanofilm barrier layer (EI收录SCI收录) 期刊论文 ACS Applied Materials and Interfaces, 2014, 卷号: 6, 页码: 11318-11325 作者:  Luo, Dongxiang[1,2];  Zhao, Mingjie[1,2];  Xu, Miao[1,3];  Li, Min[1,2];  Chen, Zikai[4] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/04/25 Corrosion resistance  Electric field effects  Indium  Thin film transistors  Zinc