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基于复型与小时间尺度寿命预测的疲劳裂纹扩展测试方法 专利
申请日期: 2014-01-01, 公开日期: 2015-03-11
作者:  王畏寒;  张慰;  何晶靖;  张卫方;  阳劲松
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基于裂纹检出概率模型的概率寿命评估方法 专利
申请日期: 2014-01-01, 公开日期: 2015-03-04
作者:  王邓江;  何晶靖;  董邦林;  张卫方;  阳劲松
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