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| 剖面改善的牺牲栅主体形成方法及半导体器件制造方法 专利 申请日期: 2013-11-15, 作者: 殷华湘; 朱慧珑; 赵治国
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| 后栅工艺中伪栅器件及半导体器件的形成方法 专利 申请日期: 2013-10-11, 作者: 赵治国; 朱慧珑; 殷华湘
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| 半导体器件及其制造方法 专利 专利号: 9865686, 申请日期: 2013-08-12, 作者: 殷华湘,朱慧珑,马小龙
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| FinFET器件及其制作方法 专利 申请日期: 2013-08-06, 作者: 马小龙; 徐唯佳; 徐秋霞; 朱慧珑; 殷华湘
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| FinFET器件及其制作方法 专利 专利号: CN201310275191.8, 申请日期: 2013-07-02, 作者: 殷华湘; 马小龙; 徐唯佳; 徐秋霞; 朱慧珑
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| 半导体制造方法 专利 专利号: CN201310215646.7, 申请日期: 2013-05-31, 作者: 殷华湘; 罗军; 陈率; 朱慧珑
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| 半导体器件及其制造方法 专利 专利号: CN201310141764.8, 申请日期: 2013-04-22, 作者: 殷华湘; 洪培真; 孟令款; 朱慧珑
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| FinFET及其制造方法 专利 申请日期: 2013-04-08, 作者: 洪培真; 朱慧珑; 殷华湘
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