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剖面改善的牺牲栅主体形成方法及半导体器件制造方法 专利
申请日期: 2013-11-15,
作者:  殷华湘;  朱慧珑;  赵治国
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后栅工艺中伪栅器件及半导体器件的形成方法 专利
申请日期: 2013-10-11,
作者:  赵治国;  朱慧珑;  殷华湘
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半导体器件及其制造方法 专利
专利号: 9865686, 申请日期: 2013-08-12,
作者:  殷华湘,朱慧珑,马小龙
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FinFET器件及其制作方法 专利
申请日期: 2013-08-06,
作者:  马小龙;  徐唯佳;  徐秋霞;  朱慧珑;  殷华湘
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FinFET器件及其制作方法 专利
专利号: CN201310275191.8, 申请日期: 2013-07-02,
作者:  殷华湘;  马小龙;  徐唯佳;  徐秋霞;  朱慧珑
收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2019/03/26
半导体制造方法 专利
专利号: CN201310215646.7, 申请日期: 2013-05-31,
作者:  殷华湘;  罗军;  陈率;  朱慧珑
收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2019/03/26
半导体器件及其制造方法 专利
专利号: CN201310141764.8, 申请日期: 2013-04-22,
作者:  殷华湘;  洪培真;  孟令款;  朱慧珑
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FinFET及其制造方法 专利
申请日期: 2013-04-08,
作者:  洪培真;  朱慧珑;  殷华湘
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