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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2012     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 测试码间距与测试效率关系研究 会议论文 第七届中国测试学术会议, 2012-06-23 作者:  Gu Suyun[1];  顾苏赟[2];  Xu Shiyi[3];  徐拾义[4];  Wu Yue[5] 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/04/30 电路测试  海明距离  故障差异  随机测试效率