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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2009     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Annealing behavior of radiation damage in JFET-input operational amplifiers 期刊论文 Journal of Semiconductors, 2009, 卷号: 30, 期号: 5, 页码: 60-64 作者:  Zheng, Yuzhan;  Lu, Wu;  Ren, Diyuan;  Wang, Yiyuan;  Guo, Qi 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2014/11/11 JFET-input operational amplifiers  dose rate  radiation damage  annealing behavior