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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：近代物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Latent Reliability Degradation of Ultrathin Amorphous HfO2 Dielectric After Heavy Ion Irradiation: The Impact of Nano-Crystallization 期刊论文 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2019, 卷号: 40, 期号: 10, 页码: 1634-1637 作者:  Li, Zongzhen;  Liu, Jie;  Zhai, Pengfei;  Liu, Tianqi;  Bi, Jinshun 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2022/01/19 HfO2  heavy ion irradiation  reliability degradation  crystallization