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| 干涉型成像光谱仪内方位元素及畸变标定方法 专利
专利号: CN202010461031.2, 申请日期: 2021-09-14, 公开日期: 2021-09-14
作者: 刘尚阔; 周艳; 赵建科; 曹昆; 李晶
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| 一种大动态环境目标模拟装置 专利
专利号: CN202011527209.5, 申请日期: 2020-12-22, 公开日期: 2021-04-16
作者: 张洁; 赵建科; 白龙; 刘锴; 李晶
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| 一种点源透过率测试系统 专利
专利号: CN201921878539.1, 申请日期: 2020-07-31,
作者: 李朝辉; 赵建科; 徐亮; 刘峰; 张玺斌
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| 一种成像系统空间测试装置 专利
专利号: CN201922414795.1, 申请日期: 2020-06-26,
作者: 曹昆; 张洁; 周艳; 李坤; 刘尚阔
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| 一种成像系统空间测试装置、对比度及频率测试方法 专利
专利号: CN201911386114.3, 申请日期: 2019-12-29, 公开日期: 2020-04-03
作者: 曹昆; 张洁; 周艳; 李坤; 刘尚阔
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| 一种点源透过率测试系统 专利
专利号: CN201911068146.9, 申请日期: 2019-11-04,
作者: 李朝辉; 赵建科; 徐亮; 刘峰; 张玺斌
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| 高耦合低成本TO光器件 专利
专利号: CN110261980A, 申请日期: 2019-09-20, 公开日期: 2019-09-20
作者: 阳曦; 赵廷全; 卢刚
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| 一种反射式可控温激光激发远程荧光材料测试装置 专利
专利号: CN110161010A, 申请日期: 2019-08-23, 公开日期: 2019-08-23
作者: 樊嘉杰; 唐芝彬; 陈威; 费孝峰; 何凯
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| 一种用于转台六项几何误差测量方法 专利
专利号: CN107490343B, 申请日期: 2019-08-09, 公开日期: 2019-08-09
作者: 石照耀; 宋辉旭; 陈洪芳; 孙衍强
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| 一种用于转台六项几何误差测量装置 专利
专利号: CN107607041B, 申请日期: 2019-06-28, 公开日期: 2019-06-28
作者: 石照耀; 宋辉旭; 陈洪芳; 孙衍强
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