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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：合肥物质科学研究院    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Annealing-temperature-modulated optical, electrical properties, and leakage current transport mechanism of sol-gel-processed high-k HfAlOX gate dielectrics 期刊论文 CERAMICS INTERNATIONAL, 2017, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: 3101-3106 作者:  Jin, P.;  He, G.;  Fang, Z. B.;  Liu, M.;  Xiao, D. Q. 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2018/07/04 High-k Hfalox Gate Dielectrics  Sol-gel  Optical Properties  Electrical Properties  Leakage Current Transport Mechanism   Annealing Temperature Dependent Electrical Properties and Leakage Current Transport Mechanisms in Atomic Layer Deposition-Derived Al2O3-Incorporated HfO2/Si Gate Stack 期刊论文 JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2016, 卷号: 16, 期号: 8, 页码: 8075-8082 作者:  Gao, Juan;  He, Gang;  Zhang, Jiwen;  Chen, Xuefei;  Jin, Peng 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2017/11/21 High-k Gate Dielectric  Atomic Layer Deposition  Electrical Properties  Leakage Current Mechanism   Microstructure, optical, electrical properties, and leakage current transport mechanism of sol-gel-processed high-k HfO2 gate dielectrics 期刊论文 CERAMICS INTERNATIONAL, 2016, 卷号: 42, 期号: 6, 页码: 6761-6769 作者:  Jin, Peng;  He, Gang;  Xiao, Dongqi;  Gao, Juan;  Liu, Mao 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2017/10/18 High-k Gate Dielectrics  Sol-gel  Electrical Properties  Leakage Current Transport Mechanism  Optical Properties