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半导体研究所 [4]
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专题:半导体研究所
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具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统
专利
专利号: CN200910093882.X, 公开日期: 2011-08-30, 2011-04-20, 2011-08-30
作者:
吴昊
;
郑厚植
;
朱汇
;
李韫慧
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2011/08/30
测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN102253323A, 公开日期: 2012-08-29, 2011-11-23, 2012-08-29
李韫慧
;
章昊
;
肖文波
;
吴昊
;
谭平恒
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2012/08/29
强磁场环境和液氮温度下的自旋相关输运测量系统
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910088590.7, 公开日期: 2011-08-30
作者:
朱汇
收藏
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2011/08/30
一种基于永磁体实现磁场扫描的结构及方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201010162487.5, 公开日期: 2011-08-30
吴昊
;
郑厚植
;
章昊
;
朱汇
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2011/08/30
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