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科研机构
河北大学 [8]
内容类型
期刊论文 [6]
学位论文 [2]
发表日期
2014 [1]
2012 [1]
2011 [2]
2010 [1]
2009 [1]
2008 [1]
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非晶Nb-Ni薄膜用于Cu与Si之间阻挡层的性能和结构的研究
期刊论文
人工晶体学报, 2014, 卷号: 43, 期号: 4, 页码: 852-856
作者:
张磊[1]
;
冯招娣[2]
;
王世杰[3]
;
贾艳丽[4]
;
贾长江[5]
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提交时间:2019/12/21
阻挡层
铜互连
Nb-Ni薄膜
用于Cu互连的Ta/Ti-Al集成薄膜的结构和阻挡性能
期刊论文
功能材料, 2012, 卷号: 43, 期号: 4, 页码: 462-464
作者:
任国强[1]
;
邢金柱[2]
;
李晓红[3]
;
郭建新[4]
;
代秀红[5]
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提交时间:2019/12/21
Cu互连
阻挡层
Ta/Ti-Al
射频磁控溅射
硅基Cu薄膜与氧化物铁电电容器集成的研究
学位论文
: 河北大学, 2011
作者:
陈剑辉[1]
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/21
集成电路
铁电存储器
Cu互连
Ni-Al
磁控溅射法
sol-gel法
非晶Ni-Al-N薄膜用作Cu互连阻挡层的研究
期刊论文
真空科学与技术学报, 2011, 卷号: 31, 期号: 1, 页码: 23-26
作者:
陈剑辉[1]
;
刘保亭[2]
;
李晓红[3]
;
王宽冒[4]
;
李曼[5]
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/21
Cu互连
Ni-Al-N
扩散阻挡层
失效机制
硅基集成电路中Cu互连阻挡层的研究
期刊论文
材料导报, 2010, 卷号: 24, 期号: 11, 页码: 58-63,72
作者:
陈剑辉[1]
;
刘保亭[2]
;
赵冬月[3]
;
杨林[4]
;
李曼[5]
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/21
Cu 互连
扩散阻挡层
失效机制
含Cu硅基铁电电容器集成过程中Ni-Al阻挡层的研究
学位论文
: 河北大学, 2009
作者:
霍骥川[1]
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提交时间:2019/12/21
Cu互连
扩散阻挡层
铁电电容器
磁控溅射法
溶胶-凝胶法
镍-铝薄膜
用于Cu互连阻挡层的非晶Ni-Al薄膜研究
期刊论文
功能材料, 2008, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 2005-2007
作者:
霍骥川[1]
;
刘保亭[2]
;
邢金柱[3]
;
周阳[4]
;
李晓红[5]
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提交时间:2019/12/31
Cu互连
Ni-Al
扩散阻挡层
集成电路铜互连线及相关问题的研究
期刊论文
半导体技术, 2001, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 29-32
作者:
宋登元[1]
;
宗晓萍[2]
;
孙荣霞[3]
;
王永青[4]
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提交时间:2019/12/31
集成电路
Cu互连线
阻挡层
低k电介质
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