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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：上海大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Quasi-tem analysis of a shielded microstrip line of elliptic cross-section with finite metallization thickness penetrating into the substrate by the finite difference method 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF INFRARED AND MILLIMETER WAVES, 2000, 卷号: 21, 页码: 91-100 作者:  Wang, Q[1];  Liu, CQ[2];  Li, Y[3] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/05/11 MSL  monolithic microwave integrated circuits (MMICs)  quasi-static characteristics  metallization thickness  FDM