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上海应用物理研究所 [4]
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学位论文 [2]
专利 [1]
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2018 [1]
2015 [1]
2008 [1]
2005 [1]
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专题:上海应用物理研究所
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基于近场外差散斑的自由电子激光横向相干性测量的研究
学位论文
: 中国科学院大学(中国科学院上海应用物理研究所), 2018
作者:
姚超
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2018/08/23
自由电子激光横向相干性测量方案
近场外差散斑方法
孪生测量
一种同步辐射X射线大面积干涉光刻系统
专利
专利号: CN105182701A, 申请日期: 2015-12-23, 公开日期: 2015-12-23
作者:
薛超凡
;
吴衍青
;
刘海岗
;
杨树敏
;
王连升
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2021/09/09
基于高级硅刻蚀和硅氧化工艺的软X射线干涉光刻分束光栅的优化设计
期刊论文
核技术, 2008, 期号: 06
朱伟忠
;
吴衍青
;
史沛熊
;
郭智
;
邰仁忠
;
徐洪杰
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2012/06/06
软X射线透射光栅
衍射效率
高级硅刻蚀
硅氧化工艺
严格耦合波方法
软X射线干涉光刻
软X射线干涉光刻相关技术研究
学位论文
博士, 上海应用物理研究所: 中国科学院上海应用物理研究所, 2005
朱伟忠
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浏览/下载:96/0
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提交时间:2012/04/11
软X射线金属型透射光栅
严格耦合波方法
电子束光刻
衍射效率
软X射线干涉光刻
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