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科研机构
微电子研究所 [2]
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专利 [1]
期刊论文 [1]
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2012 [1]
2007 [1]
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专题:微电子研究所
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一种T形沟道的有机场效应晶体管的制作方法
专利
专利号: CN200810240078.5, 申请日期: 2012-03-28, 公开日期: 2010-06-23
作者:
柳江
;
刘舸
;
刘明
;
刘兴华
;
商立伟
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提交时间:2010/11/26
采用LOCOS隔离的部分耗尽SOI 器件的窄沟道效应
期刊论文
电 子 器 件, 2007, 卷号: 30, 期号: 5, 页码: 4,1535_1538
作者:
郭天雷
;
宋文斌
;
许高博
;
韩郑生
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2010/05/26
部分耗 Soi
鸟嘴效应
边缘电场效应
反向窄沟道效应
杂质重新分布
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