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Impact of High TID Irradiation on Stability of 65 nm SRAM Cells 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2022, 卷号: 69, 期号: 5, 页码: 1044-1050
作者:  Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1];  Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1];  Li, YD (Li, Yudong) [1];  Guo, Q (Guo, Qi) [1]
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2022/06/21
Time-Series Classification Based on Fusion Features of Sequence and Visualization 期刊论文
APPLIED SCIENCES-BASEL, 2020, 卷号: 10, 期号: 12, 页码: 1-25
作者:  Wang, BQ (Wang, Baoquan)[ 1,2,3 ];  Jiang, TH (Jiang, Tonghai)[ 1,3 ];  Zhou, X (Zhou, Xi)[ 1,3 ];  Ma, B (Ma, Bo)[ 1,2,3 ];  Zhao, F (Zhao, Fan)[ 1,3 ]
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2020/09/09
Dose-rate sensitivity of deep sub-micro complementary metal oxide semiconductor process 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 7
作者:  Zheng, QW (Zheng Qi-Wen);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei);  Wang, HN (Wang Han-Ning);  Zhou, H (Zhou Hang);  Yu, DZ (Yu De-Zhao)
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2016/12/12
静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:  郑齐文
收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2015/06/15
新型非易失存储器电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
作者:  张兴尧
收藏  |  浏览/下载：89/0  |  提交时间：2014/08/05
Pattern imprinting in deep sub-micron static random access memories induced by total dose irradiation 期刊论文
Chinese Physics B, 2014, 卷号: 23, 期号: 10
作者:  Zheng, Qi-Wen;  Yu, Xue-Feng;  Cui, Jiang-Wei;  Guo, Qi;  Ren, Di-Yuan
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2014/11/11
静态随机存储器总剂量辐射效应及损伤机理的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
作者:  卢健
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2016/05/10
SOI CMOS静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
作者:  李明
收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2016/05/24
PDSOI CMOS SRAM总剂量辐射及退火效应的研究 期刊论文
核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 6, 页码: 452-456
作者:  李明;  余学峰;  卢健;  高博;  崔江维
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/11/29
静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2010
作者:  李茂顺
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2016/05/26

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