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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：电子学研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 表面等离子体谐振测试仪 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2010-12-24, 公开日期: 1999-12-15, 2010-12-24 崔大付; 周力夫  收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2010/12/24 高通量多参数图像表面等离子体谐振测试仪 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2010-12-24, 公开日期: 2007, 2010-12-24 崔大付; 蔡浩原; 王军波; 李亚亭; 梁金庆; 刘长春; 王于杰; 郑自攀  收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2010/12/24 一种单通道多参数表面等离子体谐振测试仪 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2010-12-24, 公开日期: 2006-09-13, 2010-12-24 崔大付; 王军波; 蔡浩原; 王于杰  收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2010/12/24 一种单通道多参数表面等离子体谐振测试仪 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2010-12-24, 公开日期: 2006-09-13, 2010-12-24 崔大付; 王军波; 蔡浩原; 王于杰  收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2010/12/24