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计算技术研究所 [10]
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2008 [2]
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2003 [1]
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计算机系统结构 [1]
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专题:计算技术研究所
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GPGPU-Based ATPG System: Myth or Reality?
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 1, 页码: 239-247
作者:
Lai, Liyang
;
Tsai, Hans
;
Li, Huawei
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2020/12/10
ATPG
fault simulation
general-purpose computing on graphics processing units (GPGPUs)
硅后时延通路故障的指令级测试方法研究
学位论文
北京: 中国科学院研究生院, 2011
作者:
Xiaobing
;
Shi
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2011/06/07
通路时延故障,硅后测试,时速路径,指令级测试,约束atpg
Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2011, 卷号: 30, 期号: 3, 页码: 455-463
作者:
Wu, Shianling
;
Wang, Laung-Terng
;
Wen, Xiaoqing
;
Jiang, Zhigang
;
Tan, Lang
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/16
Aligned launch-on-capture
at-speed scan testing
double-capture
hybrid launch-on-capture
launch-on-capture
one-hot launch-on-capture
staggered launch-on-capture
Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046
作者:
Wang, Da
;
Hu, Yu
;
Li, Hua-Wei
;
Li, Xiao-Wei
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/12/16
microprocessor design-for-testability
test generation
built-in self-test
at-speed testing
Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor
期刊论文
Journal of Computer Science and Technology, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046
作者:
Da Wang(王 达)
;
Yu Hu(胡 瑜)
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2010/11/02
Microprocessor Design-for-testability
Test Generation
Built-in Self-test
At-speed Testing
结合ATPG和SAT的无界模型检验前像计算方法
期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2007, 卷号: 19, 期号: 3
作者:
刘领一
;
李晓维
;
李华伟
;
吕涛
;
赵阳
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2010/11/22
形式验证
无界模型检验
前像计算
自动化测试激励生成
布尔可满足性问题
Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test
期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195
作者:
Li, HW
;
Li, XW
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/12/16
delay test
crosstalk
automatic test pattern generation (ATPG)
critical paths
A novel RTL behavioral description based ATPG method
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 308-317
作者:
Yin, ZG
;
Min, YH
;
Li, XW
;
Li, HW
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/16
RTL (Register Transfer Level)
ATPG (Automatic Test Pattern Generation)
behavioral description
HDL (Hardware Description Language)
Clustering of behavioral phases in FSMs and its applications to VLSI test
期刊论文
SCIENCE IN CHINA SERIES F, 2002, 卷号: 45, 期号: 6, 页码: 462-478
作者:
Li, HW
;
Min, YH
;
Li, ZC
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/12/16
finite-state machines
clustering of states
behavioral descriptions
test generation
Why RTL ATPG?
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2002, 卷号: 17, 期号: 2, 页码: 113-117
作者:
Min, YG
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/16
automatic test generation (ATPG)
register transfer level (RTL)
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