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金属研究所 [6]
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期刊论文 [6]
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Temperature Gradient Induced Orientation Change of Bi Grains in Sn-Bi57-Ag0.7 Solder Joint
期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA-ENGLISH LETTERS, 2022, 页码: 11
作者:
Chen, Yinbo
;
Gao, Zhaoqing
;
Liu, Zhi-Quan
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2022/07/01
Sn-Bi-Ag solder
Grain orientation
Temperature gradient
Aging
Ag3Sn
Interfacial Structure and Mechanical Properties of Lead-Free Bi-Containing Solder/Cu Microelectronic Interconnects
期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, 2021, 卷号: 50, 期号: 1, 页码: 258-262
作者:
Liu, C. Z.
;
Wang, J. J.
;
Zhu, M. W.
;
Liu, X. M.
;
Lu, T. N.
收藏
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浏览/下载:26/0
  |  
提交时间:2021/02/03
Microstructural evolution and failure mechanism of 62Sn36Pb2Ag/Cu solder joint during thermal cycling
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 99, 页码: 12-18
作者:
Li, Qi-hai
;
Li, Cai-Fu
;
Zhang, Wei
;
Chen, Wei-wei
;
Liu, Zhi-Qua
收藏
  |  
浏览/下载:26/0
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提交时间:2021/02/02
62Sn36Pb2Ag solder joint
Microstructural evolution
Failure analysis
Intermetallic compound (IMC)
Thermal cycling
Microstructural evolution and failure mechanism of 62Sn36Pb2Ag/Cu solder joint during thermal cycling
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 99, 页码: 12-18
作者:
Li, Qi-hai
;
Li, Cai-Fu
;
Zhang, Wei
;
Chen, Wei-wei
;
Liu, Zhi-Qua
收藏
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2021/02/02
62Sn36Pb2Ag solder joint
Microstructural evolution
Failure analysis
Intermetallic compound (IMC)
Thermal cycling
Microstructure and fracture of Pb-free solder interconnects in CBGA packages under thermal cycling
期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2006, 卷号: 42, 期号: 6, 页码: 647-652
作者:
Wang, W
;
Wang, ZG
;
Xian, AP
;
Shang, JK
收藏
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提交时间:2021/02/02
Pb-free solder
interconnect
ceramic ball grid array (CBGA)
finite element method
thermal cycling
Bi segregation at interface of the eutectic SnBi/Cu solder joint
期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2005, 卷号: 41, 期号: 8, 页码: 847-852
作者:
Liu, CZ
;
Zhang, W
;
Sui, ML
;
Shang, JK
收藏
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提交时间:2021/02/02
eutectic SnBi/Cu solder joint
segregation
interfacial reaction
Pb-free solder
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