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科研机构
兰州大学 [1]
内容类型
会议论文 [1]
发表日期
2011 [1]
学科主题
physical p... [1]
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Atomic force microscopy and X-ray photoelectron spectroscopy study on the surface and interface states of Liq and ITO films
会议论文
2010 International Conference on Advances in Materials and Manufacturing Processes, ICAMMP 2010, Shenzhen, China, November 6, 2010 - November 8, 2010
作者:
Li, Jianfeng
;
Song, Qing
;
Shi, Weibing
;
Zhang, Fujia
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提交时间:2017/01/20
Atomic spectroscopy
Absorption
Absorption spectroscopy
Argon
Atomic force microscopy
Binding energy
Electron energy levels
Electrons
Indium
ITO glass
Materials
O rings
Oxygen
Photoelectricity
Photons
Spectrum analysis
Sputtering
Surface morphology
Surfaces
Tin
X ray photoelectron spectroscopy
X rays
AFM observation
Air molecules
Argon ion
Blue electroluminescent materials
C atoms
Coated glass
Coordination bonds
Different sizes
Effect of oxygen
Indium tin oxide
ITO films
Li atoms
Liq/ITO
Organic light-emitting devices
Organic materials
Quinolate
Sputtering time
Surface and interface electron state
Surface and interface state
X-ray photoelectron spectroscopy studies
XPS
XPS spectra
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