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科研机构
北京航空航天大学 [10]
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期刊论文 [7]
会议论文 [3]
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2019 [2]
2018 [2]
2016 [1]
2015 [1]
2013 [3]
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Novel Radiation Hardening Read/Write Circuits Using Feedback Connections for Spin-Orbit Torque Magnetic Random Access Memory
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019, 卷号: 66, 页码: 1853-1862
作者:
Wang, Bi
;
Wang, Zhaohao
;
Wu, Bi
;
Bai, Yumeng
;
Cao, Kaihua
收藏
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浏览/下载：21/0
|
提交时间：2019/12/30
SOT-MRAM
radiation hardening techniques
single event upset
double-node upset
particle
reliability
Novel Radiation Hardening Read/Write Circuits Using Feedback Connections for Spin-Orbit Torque Magnetic Random Access Memory
会议论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019-05-01
作者:
Wang, Bi
;
Wang, Zhaohao
;
Wu, Bi
;
Bai, Yumeng
;
Cao, Kaihua
收藏
|
浏览/下载：18/0
|
提交时间：2019/12/30
SOT-MRAM
radiation hardening techniques
single event upset
double-node upset
particle
reliability
Single Event Upset Reliability Assessment for RAM Based on Maximum Entropy Principle and Bootstrap
会议论文
2018 PROGNOSTICS AND SYSTEM HEALTH MANAGEMENT CONFERENCE (PHM-CHONGQING 2018), 2018-01-01
作者:
Zhang, Zhongqing
;
Fu, Guicui
;
Guo, Wendi
;
Su, Yutai
;
Wang, Bo
收藏
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浏览/下载：5/0
|
提交时间：2019/12/30
maximum entropy principle
Bootstrap method
EDAC
reliability assessment
Radiation-Hardening Techniques for Spin Orbit Torque-MRAM Peripheral Circuitry
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, 2018, 卷号: 54
作者:
Wang, Bi
;
Wang, Zhaohao
;
Hu, Chunyan
;
Zhao, Yuanfu
;
Zhang, Youguang
收藏
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浏览/下载：11/0
|
提交时间：2019/12/30
Double-node upset (DNU)
peripheral circuitry
radiation hardening by design
single-event upset (SEU)
spin orbit torque magnetic random access memory (SOT-MRAM)
Degradation-shock-based Reliability Models for Fault-tolerant Systems
期刊论文
QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL, 2016, 卷号: 32, 页码: 949-955
作者:
Liu, Zhenyu
;
Ma, Xiaobing
;
Shen, Lijuan
;
Zhao, Yu
收藏
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浏览/下载：2/0
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提交时间：2019/12/30
degradation
shock model
fault tolerant
total ionizing dose
single-event upset
Nonvolatile Radiation Hardened DICE Latch
会议论文
2015 15TH NON-VOLATILE MEMORY TECHNOLOGY SYMPOSIUM (NVMTS), 2015-01-01
作者:
Pang, Tingting
;
Kang, Wang
;
Ran, Yi
;
Zhang, Youguang
;
Lv, Weifeng
收藏
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浏览/下载：2/0
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提交时间：2020/01/06
Dual interlocked storage cell (DICE)
nonvolatility
single event upset (SEU)
radiation hardened design
基于可编程互联点的FPGA布线故障注入方法
期刊论文
中国惯性技术学报, 2013, 卷号: 21, 页码: 131-135
作者:
潘雄
;
张家铭
;
朱明达
;
陈永奇
收藏
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浏览/下载：2/0
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提交时间：2020/01/06
故障注入 单粒子翻转 布线 FPGA fault injection single event upset routing FPGA
Effect of stress distribution on the tool joint failure of internal and external upset drill pipes
期刊论文
MATERIALS & DESIGN, 2013, 卷号: 52, 页码: 308-314
作者:
Luo, Shuai
;
Wu, Sujun
收藏
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浏览/下载：2/0
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提交时间：2020/01/06
Mitigation and Experiment on Neutron Induced Single-Event Upsets in SRAM-Based FPGAs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2013, 卷号: 60, 页码: 3063-3073
作者:
Zhu, Mingda
;
Song, Ningfang
;
Pan, Xiong
收藏
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浏览/下载：3/0
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提交时间：2020/01/06
Neutron radiation
partial triple modular redundancy
probabilistic transfer matrix
single event upset
SRAM-based FPGA
Single-Event-Upset (SEU) mitigation techniques for routing resources of SRAM-FPGA
期刊论文
International Journal of Advancements in Computing Technology, 2012, 卷号: 4, 页码: 205-213
作者:
Gao, Cheng
;
Guo, Wei
;
Huang, Jiaoying
收藏
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浏览/下载：3/0
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提交时间：2020/01/06
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