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科研机构
北京大学 [14]
内容类型
其他 [14]
发表日期
2016 [1]
2015 [2]
2014 [2]
2013 [1]
2012 [2]
2010 [1]
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内容类型:其他
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ESD-Reliability Characterizations of a 45-V p-Channel LDMOS-SCR with the Discrete-Cathode End
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Huang, Yu-Ting
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
;
Chen, Kuei-Jyun
收藏
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浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
P-type laterally-diffused metal oxide semiconductor (pLDMOS)
Electrostatic Discharge (ESD)
Holding voltage (V-h)
Secondary breakdown current (I-t2)
Variation-aware energy-delay optimization method for device/circuit co-design
其他
2015-01-01
Wang, Junyao
;
Jiang, Xiaobo
;
Wang, Xingsheng
;
Wang, Runsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
;
Wei, Lan
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
VARIATION-AWARE ENERGY-DELAY OPTIMIZATION METHOD FOR DEVICE/CIRCUIT CO-DESIGN
其他
2015-01-01
Wang, Junyao
;
Jiang, Xiaobo
;
Wang, Xingsheng
;
Wang, Runsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
;
Wei, Lan
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
VARIABILITY
High temperature behavior of multi-region direct current current-voltage spectroscopy and relationship with shallow-trench-isolation-based high-voltage laterally diffused metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors reliability
其他
2014-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Three dimemsional electro-thermal coupled Monte Carlo device simulation
其他
2014-01-01
Liu, Xiaoyan
;
Wei, Kangliang
;
Yin, Longxiang
;
Du, Gang
;
Jiang, Hai
;
Zhao, Kai
;
Zeng, Lang
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
Simulation and Analysis of High Breakdown Voltage AlGaN/GaN MOSHEMTs with TiO2/Al2O3 Gate Dielectric
其他
2013-01-01
Li, X.P.
;
Wang, J.Y.
;
Cai, J.B.
;
Liu, Y.
;
Yang, Zh.
;
Zhang, B.
;
Wang, M.J.
;
Yu, M.
;
Xie, B.
;
Wu, W.G.
;
Zhang, J.Ch
;
Ma, X.H.
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
FIELD-EFFECT TRANSISTORS
A Multi-region Trap Characterization Method and Its Reliability Application on STI-based High-Voltage LDMOSFETs
其他
2012-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
High voltage LDMOS
multi-region direct current IV technique
interface state
degradation
HOT
TRANSISTORS
A Novel Floating Gate Structure for High-Reliability and High-Speed Flash Application
其他
2012-01-01
Mei, Song
;
Cai, Yimao
;
Wan, Zhenni
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
Current Collapse, Memory Effect Free GaN HEMT
其他
2010-01-01
Wen, Cheng P.
;
Wang, Jinyan
;
Hao, Yilong
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
Reliability enhancement in advanced MOSFETS using the U-shape STI structure for radiation appication
其他
2008-01-01
Yunpeng, Pei
;
Xia, An
;
Ru, Huang
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
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