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北京大学 [4]
内容类型
其他 [4]
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2010 [2]
2006 [1]
2001 [1]
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The Combined Impact of Total Ionizing Dose Effect and Negative Bias Temperature Stress on Deep Sub-Micron pMOSFETs
其他
2010-01-01
Wang, Jian
;
Wang, Wenhua
;
Huang, Detao
;
Xue, Shoubin
;
Wang, Sihao
;
Liu, Wen
;
Huang, Ru
收藏
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提交时间:2015/11/13
NBTI DEGRADATION
RADIATION
INSTABILITY
A Comparison of Avalanche Injection of Holes and Total Dose Radiation Effects in RadFETs
其他
2010-01-01
Tang, Hao
;
Wang, Yi
;
Wang, Jinyan
;
Zheng, Yijun
;
Jin, Yufeng
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
MOS STRUCTURES
SENSITIVITY
CHARGE
OXIDE
Observations of vertical reflections from the topside martian ionosphere
其他
2006-01-01
Nielsen, E.
;
Zou, H.
;
Gurnett, D. A.
;
Kirchner, D. L.
;
Morgan, D. D.
;
Huff, R.
;
Orosei, R.
;
Safaeinili, A.
;
Plaut, J. J.
;
Picardi, G.
收藏
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提交时间:2015/11/12
Mars
ionosphere
electron densities
top side sounder
MARS GLOBAL SURVEYOR
RADIO OCCULTATION METHODS
ELECTRON-DENSITIES
DAYSIDE IONOSPHERE
ATMOSPHERE
SATELLITE
VENUS
EARTH
电离辐射技术在甲壳素/壳聚糖改性中的应用
其他
2001-01-01
翟茂林
;
林琳
;
李久强
;
何平
;
魏根拴
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2015/10/24
电离辐射技术
甲壳素
壳聚糖
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