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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Statistical Analysis on Performance Degradation of 90 nm bulk SiMOS Devices Irradiated by Heavy Ions 其他 2016-01-01 Zhexuan Ren; Xia An; Weikang Wu; Xing Zhang; Ru Huang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 irradiation  saturation  trapped  charges  irradiated  attributed  hardened  intrinsic  leakage  incident  irradiation  saturation  trapped  charges  irradiated  attributed  hardened  intrinsic  leakage  incident   Simulation on endurance characteristic of charge trapping memory 其他 2013-01-01 Lun, Zhiyuan; Wang, Taihuan; Zeng, Lang; Zhao, Kai; Liu, Xiaoyan; Wang, Yi; Kang, Jinfeng; Du, Gang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 A New Charge-Pumping Measurement Technique for Lateral Profiling of Interface States and Oxide Charges in MOSFETs 其他 2001-01-01 - 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 charge-pumping  HCI degradation  lateral profiling  interface states  oxide charge  charge-pumping  HCI degradation  lateral profiling  interface states  oxide charge   A new charge-pumping measurement technique for lateral profiling of interface states and oxide charges in MOSFETs 其他 2001-01-01 Liang, Y; Zhao, W; Xu, MZ; Tan, CH 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 charge-pumping  HCI degradation  lateral profiling  interface states  oxide charge  TRAPPED CHARGES  DISTRIBUTIONS