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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 The response of electrostatic MEMS structure under mechanical shock and electrostatic forces 其他 2013-01-01 Li, Xiang Guang; Huang, Qin Wen; Wang, Yun Hui; Jia, Yu Bin; Wang, Zhi Bin 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/17 A JTAG-based configuration circuit applied in SerDes chip 其他 2011-01-01 Jiang, Xun; Cui, Xiaoxin; Yu, Dunshan 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 Fabrication and testing of a novel silicon probe for micromachined surface profilers 其他 2011-01-01 Jiang, Senlin; Zhang, Dacheng; Lin, Longtao; Yang, Zhenchuan; Yan, Guizhen 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 Testing as a service over cloud 其他 2010-01-01 Yu, Lian; Tsai, Wei-Tek; Chen, Xiangji; Liu, Linqing; Zhao, Yan; Tang, Liangjie; Zhao, Wei 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13 A Novel Precision Face Grinder for Advanced Optic Manufacture 其他 2010-01-01 Guo, Y.; Peng, Y.; Wang, Z.; Yang, W.; Bi, G.; Ke, X.; Lin, X.; 杨炜; 毕果 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/07/22 Study on mechanical performances of thin SiO2 film by micro-bridge methods 其他 2004-01-01 Wang, Y; Zhang, HX; Zhang, TH 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 MEMS  thin film  micro-bridge test  Young&apos  residual stress  SILICON-WAFERS  s modulus   A FINITE-ELEMENT METHOD TO MODEL PROGRESSIVE FRACTURING 其他 1995-01-01 LI, ZP; REED, M 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/12