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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 单分子异质结中的电子-声子耦合现象 其他 2016-01-01 顾春晖; 郭雪峰 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 单分子异质结  电子-声子耦合   4-9nm n-MOSFETs热载流子退化及寿命预测 其他 2001-01-01 穆甫臣; 许铭真; 谭长华; 段小蓉 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/11 MOS器件  热载流子  退化特性  寿命预测  氧化层厚度   基于栅应力电流的SiO2可靠性预测统一模型 其他 2001-01-01 谭长华; 许铭真 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/11 SiO&  lt  ,2&  gt  可靠性预测  预测模型  amp  amp   复合材料及其结构的力学进展 （第四册） 其他 王震鸣; 吴代华; 范赋群主编 收藏  |  浏览/下载：14/0