×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京大学 [12]
内容类型
其他 [12]
发表日期
2016 [2]
2015 [2]
2014 [4]
2013 [2]
2012 [2]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共12条,第1-10条
帮助
限定条件
内容类型:其他
专题:北京大学
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Harnessing genomic resources for sweet sorghum breeding
其他
2016-01-01
Limin Zhang
;
Zhiquan Liu
;
Hong Luo
;
Xiaoyuan Wu
;
Yan Xia
;
Lidong Wang
;
Jingchu Luo
;
Haichun Jing
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Genome variation
Gene-trait association
Sorghum molecular breeding
Genome variation
Gene-trait association
Sorghum molecular breeding
Fabrication and Characterization of Low Stress Si Interposer with Air-gapped Si Interconnection for Hermetical System-in-Package
其他
2016-01-01
Luo, Rongfeng
;
Ren, Kuili
;
Ma, Shenglin
;
Yan, Jun
;
Xia, Yanming
;
Jin, Yufeng
;
Chen, Jing
;
Wu, Tianzhun
;
Yang, Hangao
;
Yuan, Lifang
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Air-gapped Si
Si interposer
low stress
hermetical
System-in-Package
MEMS
WAFER-LEVEL
MEMS RESONATORS
TSV INTERPOSERS
VACUUM
MEMBRANES
DEVICES
SENSORS
Understanding of HCI degradation temperature dependence in SOI STI-pLDMOSFETs from MR-DCIV spectroscopy
其他
2015-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Understanding of HCI Degradation Temperature Dependence in SOI STI-pLDMOSFETs from MR-DCIV Spectroscopy
其他
2015-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xin
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2017/12/03
LDMOS TRANSISTORS
NBTI degradation in STI-based LDMOSFETs
其他
2014-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2015/11/10
NBTI degradation
STI-based LDMOSFETs
HCI
MR-DCIV
TRANSISTORS
High temperature behavior of multi-region direct current current-voltage spectroscopy and relationship with shallow-trench-isolation-based high-voltage laterally diffused metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors reliability
其他
2014-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Understanding the Correlation of HCI and NBTI Degradation in pLDMOSFETs from MR-DCIV Technique
其他
2014-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2015/11/13
TRANSISTORS
SILICON
A Ring Oscillator based reliability structure for duty-cycle measurement under BTI stresses
其他
2014-01-01
Ai, Lei
;
He, Yandong
;
Qiao, Fang
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Multi-Region DCIV Spectroscopy and Impacts on the Design of STI-based LDMOSFETs
其他
2013-01-01
He, Yandong
;
Zhang, Ganggang
;
Han, Lin
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
multi-region DCIV spectroscopy
STI-based
LDMOSFET
reliability
TRANSISTORS
Correlation between MR-DCIV Current and High-Voltage-Stress-Induced Degradation in LDMOSFETs
其他
2013-01-01
He, Yandong
;
Han, Lin
;
Zhang, Ganggang
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2015/11/13
TRANSISTORS
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace