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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 The immunity of doping-less junctionless transistor variations including the line edge roughness 会议论文 Hong Kong, Hong kong, August 3, 2016 - August 5, 2016 作者:  Wan, Wenbo;  Lou, Haijun;  Xiao, Ying;  Lin, Xinnan 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2020/11/15 Etching  Semiconductor doping  Transistors  Charge plasmas  Electrical characteristic  Etching process  Junctionless  Junctionless transistors  Line Edge Roughness  ON/OFF current ratio  variation   The Immunity of Doping-less Junctionless Transistor Variations Including the Line Edge Roughness 会议论文 作者:  Wan, Wenbo;  Lou, Haijun;  Xiao, Ying;  Lin, Xinnan 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/11/15 charge-plasma  Junctionless  LER  variation   Characterization of Sidewall Roughness for Silicon Microstructures in Micro-actuators 会议论文 作者:  Han, Guoqiang;  Jiang, Zhuangde;  Jing, Weixuan;  Gao, Jianzhong 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/18 Line edge roughness (LER)  SEM  Micro-actuator  MEMS  Sidewall roughness   A Generalized Model to Predict Fin-Width Roughness Induced FinFET Device Variability Using the Boundary Perturbation Method (CPCI-S收录) 会议论文 DESIGN-PROCESS-TECHNOLOGY CO-OPTIMIZATION FOR MANUFACTURABILITY VIII 作者:  Cheng, Qi[1];  You, Jun[1];  Chen, Yijian[1] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/12 FinFET  device variability  fin-width roughness (FWR)  line-edge roughness (LER)  Poisson's equation