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科研机构
半导体研究所 [3]
成都理工大学 [1]
内容类型
会议论文 [4]
发表日期
2014 [1]
2007 [2]
2002 [1]
学科主题
半导体材料 [3]
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内容类型:会议论文
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Formation and distribution of silicon carbide (SiC) precipitates in industrial directional solidification of mc-Si ingots
会议论文
作者:
Luo, D.W.
;
Long, J.P.
收藏
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浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/12/09
Homoepitaxial growth of 4H-SiC multi-epilayers and its application to UV detection
会议论文
6th european conference on silicon carbide and related materials, newcastle upon tyne, england, sep, 2006
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Zhao, YM (Zhao, Y. M.)
;
Ning, J (Ning, J.)
;
Li, JY (Li, J. Y.)
;
Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Luo, MC (Luo, M. C.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
收藏
  |  
浏览/下载:103/26
  |  
提交时间:2010/03/29
homoepitaxy
4H-SiC
multi-epilayer
UV detection
p(+)-pi-n(-)
ULTRAVIOLET PHOTODETECTOR
EPITAXIAL-GROWTH
Micro-raman investigation of defects in a 4H-SiC homoepilayer
会议论文
6th european conference on silicon carbide and related materials, newcastle upon tyne, england, sep, 2006
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
;
Zhao, YM (Zhao, Y. M.)
;
Li, JY (Li, J. Y.)
;
Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Luo, MC (Luo, M. C.)
;
Zeng, YP (Zeng, Y. P.)
收藏
  |  
浏览/下载:162/28
  |  
提交时间:2010/03/29
micro-raman
4H-SiC
defects
3C-inclusions
triangle-shaped inclusion
EPITAXIAL LAYERS
SILICON-CARBIDE
In situ doping of 3C-SiC grown on (0001) sapphire substrates by LPCVD
会议论文
international conference on silicon carbide and related materials, tsukuba, japan, oct 28-nov 02, 2001
Sun GS
;
Luo MC
;
Wang L
;
Zhu SR
;
Li JM
;
Zeng YP
;
Lin LY
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2010/11/15
3C-SiC
in-situ doping
low-pressure CVD
sapphire substrate
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
COMPETITION EPITAXY
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