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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文    专题：兰州大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Raman spectroscopic characterization of the microstructure of V2O5 films 会议论文 4th International Conference on Materials for Advanced Technologies, Singapore, SINGAPORE, JUL 01-06, 2007 作者:  Su, Q;  Liu, XQ;  Ma, HL;  Guo, YP;  Wang, YY 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2015/07/31 V2O5 films  Raman spectroscopy  microstructure  oxygen vacancy   Optical and photoelectrical characterization of as-deposited and annealed PECVD polysilicon thin films 会议论文 Micro- and Nanoelectronics 2003, Zvenigorod, Russia, October 6, 2003 - October 10, 2003 作者:  Khomich, A.V.;  Kovalev, V.I.;  Vedeneev, A.S.;  Kazanskii, A.G.;  Forsh, P.A. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/01/20 Microelectronic processing  Annealing  Atomic force microscopy  Photoconductivity  Photoelectricity  Plasma enhanced chemical vapor deposition  Polysilicon  Raman spectroscopy  Thin films  Dangling bonds  Microcrystalline and amorphous silicon films  Spectroscopic ellipsometry