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一种复合材料内部缺陷类型自动识别检测方法 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN102692429B, 申请日期: 2012-09-26, 公开日期: 2013-10-30
作者:  张志强;  赵怀慈;  赵大威;  郝明国;  王立勇
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一种复合材料内部缺陷类型自动识别检测方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN102692429A, 申请日期: 2012-09-26, 公开日期: 2013-10-30
作者:  张志强;  赵怀慈;  赵大威;  郝明国;  王立勇
收藏  |  浏览/下载：134/0  |  提交时间：2013/10/15
Epoxy resin composition, cured object obtained therefrom, and light-emitting diode 专利
专利号: US20100193831A1, 申请日期: 2010-08-05, 公开日期: 2010-08-05
作者:  SATO, TAKASHI;  UENO, SHUICHI;  KOYAMA, TAKESHI
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MBE System and semiconductor device fabricated using same 专利
专利号: EP0702101A3, 申请日期: 1996-09-18, 公开日期: 1996-09-18
作者:  TAMAMURA, KOSHI, C/O SONY CORP.;  TSUKAMOTO, HIRONORI, C/O SONY CORP.;  IKEDA, MASAO, C/O SONY CORP.
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Manufacture of surface light-emitting semiconductor element 专利
专利号: JP1992056182A, 申请日期: 1992-02-24, 公开日期: 1992-02-24
作者:  KASUKAWA AKIHIKO;  IMASHIYOU YOSHIHIRO
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Semiconductor light emitting device 专利
专利号: JP1985130877A, 申请日期: 1985-07-12, 公开日期: 1985-07-12
作者:  HIRANO MASAO
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Semiconductor laser device 专利
专利号: JP1984009991A, 申请日期: 1984-01-19, 公开日期: 1984-01-19
作者:  HIRONAKA MISAO;  MIHASHI YUTAKA;  KAKIMOTO SHIYOUICHI;  SOGOU TOSHIO
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