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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：专利     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Transmission electron microscope film sample grinding and polishing device, has straight angle prism whose edge is provided with semicircular groove, and differential head matched with straight angle prism by semicircular groove and bolt. 专利 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-05-08 作者:  JIANG X DAN G YE F YANG X 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/13 Method for producing transmission electron microscope sample of soft-brittle photoelectric crystal, involves utilizing pressure free grinding method to obtain transmission sample and thin area of protective layer. 专利 申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2011-04-20 作者:  ZHANG Z HUO F ZHOU H ZHAO D 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/18 Fabricating nanoscale and atomic scale devices 专利 专利号: US7547648, 申请日期: 2009-06-16, 公开日期: 2009-06-16 作者:  RUESS, FRANK J.;  OBERBECK, LARS;  SIMMONS, MICHELLE YVONNE;  GOH, K. E. JOHNSON;  HAMILTON, ALEXANDER RUDOLF 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/24 Method for measuring thickness of epitaxial wafer layer 专利 专利号: JP1987073617A, 申请日期: 1987-04-04, 公开日期: 1987-04-04 作者:  TANAKA AKIRA;  KONNO KUNIAKI;  MATSUYAMA TAKAYUKI 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/18