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一种基于红外探测器质子位移效应的低温辐照试验测试方法 专利
申请日期: 2020-06-19,
作者:  周东;  李豫东;  文林;  冯捷;  郭旗
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一种半导体激光器的光通道代价测试系统 专利
专利号: CN202757755U, 申请日期: 2013-02-27, 公开日期: 2013-02-27
作者:  王昊
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半导体激光器LIV测试系统 专利
专利号: CN201993424U, 申请日期: 2011-09-28, 公开日期: 2011-09-28
作者:  穆宏伟;  张彩
收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2019/12/26
LD-TO高低温性能简易测试装置 专利
专利号: CN201402306Y, 申请日期: 2010-02-10, 公开日期: 2010-02-10
作者:  杨新民;  黄晶;  杨惠
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一种毫米波接收机自动测试系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-01-01, 公开日期: 2010-06-16
牛立杰; 刘浩; 张升伟; 吴季
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波长可调谐激光器的自动化测试控制系统及方法 专利
专利号: CN1995936A, 申请日期: 2007-07-11, 公开日期: 2007-07-11
作者:  王路;  赵玲娟;  张靖;  俞涛;  王鲁峰
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测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN102253323A, 公开日期: 2012-08-29, 2011-11-23, 2012-08-29
李韫慧; 章昊; 肖文波; 吴昊; 谭平恒
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光纤与电光调制器对准耦合的自动化控制系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200810224107.9, 公开日期: 2011-08-30
徐海华; 徐学俊; 陈少武; 余金中
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