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| 一种光电成像系统性能评估实验分析方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN102567608A, 申请日期: 2012-07-11, 公开日期: 2015-04-08
作者: 赵怀慈 ; 刘海峥; 郝明国; 花海洋; 王立勇
  收藏 | 浏览/下载：21/0 | 提交时间：2013/10/15 |
| 一种光电成像系统性能评估实验分析方法 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN102567608B, 申请日期: 2012-07-11, 公开日期: 2015-04-08
作者: 赵怀慈; 刘海峥; 郝明国; 花海洋; 王立勇
收藏 | 浏览/下载：14/0 | 提交时间：2015/07/01 |
| Toggling optoelectronic device and method 专利
专利号: WO2003041230A3, 申请日期: 2003-07-31, 公开日期: 2003-07-31
作者: KOUDELKA ROBERT D; HARMON ERIC S; SALZMAN DAVID B; BOONE THOMAS S; WOODALL JERRY M
收藏 | 浏览/下载：9/0 | 提交时间：2019/12/31 |
| Wavelenght selectable laser with inherent wavelenght and single-mode stability 专利
专利号: EP0883216A3, 申请日期: 1999-05-26, 公开日期: 1999-05-26
作者: DOERR, CHRISTOPHER RICHARD; JOYNER, CHARLES H.
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| System and method for transmitting parallel signals via an optical transmission path 专利
专利号: US5539846, 申请日期: 1996-07-23, 公开日期: 1996-07-23
作者: MORIKURA, SUSUMU; FURUSAWA, SATOSHI; TAKECHI, HIDEAKI
收藏 | 浏览/下载：9/0 | 提交时间：2019/12/24 |
| Manufacturing method of optical semiconductor device 专利
专利号: JP1991268473A, 申请日期: 1991-11-29, 公开日期: 1991-11-29
作者: NISHIYAMA SOICHI
收藏 | 浏览/下载：6/0 | 提交时间：2019/12/31 |
| Transient spectroscopic method and apparatus for in-process analysis of molten metal 专利
专利号: CA2051125A1, 申请日期: 1990-10-22, 公开日期: 1990-10-22
作者: KIM YONG W
收藏 | 浏览/下载：14/0 | 提交时间：2019/12/31 |
| Element with superlattice structure 专利
专利号: JP1990114648A, 申请日期: 1990-04-26, 公开日期: 1990-04-26
作者: KARASAWA TAKESHI; OKAWA KAZUHIRO; MITSUYU TSUNEO
收藏 | 浏览/下载：8/0 | 提交时间：2019/12/31 |
| Manufacture of semiconductor laser 专利
专利号: JP1989120084A, 申请日期: 1989-05-12, 公开日期: 1989-05-12
作者: MANNOU MASAYA; OGURA MOTOTSUGU
收藏 | 浏览/下载：12/0 | 提交时间：2020/01/13 |
| Manufacture of semiconductor device 专利
专利号: JP1987243320A, 申请日期: 1987-10-23, 公开日期: 1987-10-23
作者: OGURA MOTOTSUGU; SASAI YOICHI
收藏 | 浏览/下载：10/0 | 提交时间：2020/01/13 |
