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一种半导体激光器退化机制的检测方法 专利
专利号: CN105807197A, 申请日期: 2016-07-27, 公开日期: 2016-07-27
作者:  温鹏雁;  李德尧;  张书明;  刘建平;  张立群
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原位测量源炉中源材料质量的方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN101311298, 申请日期: 2008-11-26, 公开日期: 2008-11-26
龚谦; 王海龙
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束源炉中源材料熔化时对应热偶温度的测量方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN101311299, 申请日期: 2008-11-26, 公开日期: 2008-11-26
龚谦; 王海龙; 徐海华
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用于驱动聚合酶链式反应微芯片阵列的温度控制方法及装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN1687391, 申请日期: 2005-10-26, 公开日期: 2005-10-26
杨梦苏; 邹志青; 金庆辉; 陈翔; 周洪波; 赵建龙; 徐元森
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