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上海微系统与信息技术... [3]
西安光学精密机械研究... [1]
内容类型
专利 [4]
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2016 [1]
2008 [2]
2005 [1]
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一种半导体激光器退化机制的检测方法
专利
专利号: CN105807197A, 申请日期: 2016-07-27, 公开日期: 2016-07-27
作者:
温鹏雁
;
李德尧
;
张书明
;
刘建平
;
张立群
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2020/01/18
原位测量源炉中源材料质量的方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN101311298, 申请日期: 2008-11-26, 公开日期: 2008-11-26
龚谦
;
王海龙
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2012/01/06
束源炉中源材料熔化时对应热偶温度的测量方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN101311299, 申请日期: 2008-11-26, 公开日期: 2008-11-26
龚谦
;
王海龙
;
徐海华
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2012/01/06
用于驱动聚合酶链式反应微芯片阵列的温度控制方法及装置
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN1687391, 申请日期: 2005-10-26, 公开日期: 2005-10-26
杨梦苏
;
邹志青
;
金庆辉
;
陈翔
;
周洪波
;
赵建龙
;
徐元森
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2012/01/06
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