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一种用于研究负离子体系的光电子成像装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201310539055.5, 申请日期: 2015-11-01, 公开日期: 2015-05-06
作者:  王利;  刘本康;  王艳秋
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一种用于粒子成像的高速脉冲成像检测器 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201310617377.7, 申请日期: 2014-01-01, 公开日期: 2014-02-19
秦正波; 唐紫超; 任文峰; 张世宇
收藏  |  浏览/下载:23/0  |  提交时间:2014/09/25
一种新型双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201310470673.9, 申请日期: 2014-01-01, 公开日期: 2014-02-05
唐紫超;  谢华;  刘志凌;  秦正波;  张世宇
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