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基于VCSEL激光二极管的纳米银封装基座结构 专利
专利号: CN207398580U, 申请日期: 2018-05-22, 公开日期: 2018-05-22
作者:  何兵;  罗玉辉
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待测光学系统杂散光检测方法及杂散光检测系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN103149016, 申请日期: 2013-02-27, 公开日期: 2013-06-12
潘亮; 张周锋; 赵建科; 徐亮; 田留德; 刘峰
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