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一种日晕光度计检测系统及检测方法、系统、介质、设备 专利
专利号: ZL202110746962.1, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-10-15
作者:  赵明宇;  刘煜;  宋腾飞;  张雪飞;  李小波
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一种凸透镜后焦距检测装置 专利
专利号: CN208672281U, 申请日期: 2019-03-29, 公开日期: 2019-03-29
作者:  李莹莹
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一种半电池原位测试装置 专利
专利号: CN204789413U, 申请日期: 2015-11-18, 公开日期: 2015-11-18
作者:  何燕;  王娟;  秦海英;  刘嘉斌;  李爱国
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一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200810239330.0, 申请日期: 2008-12-10, 公开日期: 2010-06-23
作者:  刘禹;  关强;  赵健;  曾隽芳
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