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快速稳定的互补金属氧化物半导体恒电位仪电路 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-12-24, 公开日期: 2007, 2010-12-24
杨海钢; 李 策 
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金属氧化物半导体场效应晶体管阈值电压的测试方法 专利
专利号: CN200710064858.4, 公开日期: 2008-10-01
作者:  李多力;  海潮和;  韩郑生;  周小茵;  赵立新
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