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一种高精度亚像元位移产生方法 专利
专利号: CN201611024819.7, 申请日期: 2016-11-21, 公开日期: 2017-05-10
作者:  赵惠;  宗财慧;  李创;  樊学武
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飞秒激光散斑相关法测量微小位移的装置和方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL200610026621.2, 申请日期: 2008-04-02, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
周常河; 刘文军
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