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Method and apparatus for OPTO-electronic built-in tests 专利
专利号: US20020025100A1, 申请日期: 2002-02-28, 公开日期: 2002-02-28
作者: LAPRISE, EMMANUELLE; PLANT, DAVID V.

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Method and apparatus for OPTO-electronic built-in test 专利
专利号: CA2350718A1, 申请日期: 2001-12-16, 公开日期: 2001-12-16
作者: LAPRISE EMMANUELLE; PLANT DAVID

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Isolation instrument for electrical testing 专利
专利号: US6028423, 申请日期: 2000-02-22, 公开日期: 2000-02-22
作者: SANCHEZ, JORGE

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Electronic component failure indicator 专利
专利号: US5673028, 申请日期: 1997-09-30, 公开日期: 1997-09-30
作者: LEVY, HENRY A.

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- 专利
专利号: JP1989052913B2, 申请日期: 1989-11-10, 公开日期: 1989-11-10
作者: RONARUDO JAARU NERUSON; FUIRIITSUPU DAGURASU RAITO

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Methods for testing optical fibres 专利
专利号: US4243320, 申请日期: 1981-01-06, 公开日期: 1981-01-06
作者: GORDON, KEVIN S.

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