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半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL200510026554.X, 申请日期: 2008-04-23, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
陈晨; 辛国锋; 方祖捷

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光纤光栅固体材料热膨胀系数测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200620043911.3, 申请日期: 2007-07-18, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
杨熙春; 裴金成; 李俊; 朱汝德; 向世清; 詹亚歌

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半导体激光器热弛豫时间的测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200520042281.3, 申请日期: 2006-10-18, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
陈晨; 辛国锋; 方祖捷

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模块化蓝光光存储性能测试装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL200410066389.6, 申请日期: 2006-06-14, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
高秀敏; 徐文东; 干福熹; 周飞; 张锋; 杨金涛

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超衍射极限激光光束衍射中场的测试装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL200310108615.8, 申请日期: 2005-12-28, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
滕树云; 刘立人; 祖继锋; 栾竹; 刘德安

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模块化蓝光光存储性能测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: Zl200420090064.7, 申请日期: 2005-09-28, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
高秀敏; 徐文东; 干福熹; 周飞; 张锋; 杨金涛

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光纤连接器端面参数测试仪 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL03210385.9, 申请日期: 2005-02-09, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
王向朝; 钟向红; 路元刚

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激光光斑有效面积测试装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL03116835.3, 申请日期: 2005-02-02, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
杨镜新; 沈卫星; 庄亦飞

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检测槽宽与深均匀性的测试仪 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL00216700.X, 申请日期: 2000-10-28, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
徐文东; 施宏仁; 何红; 林强; 干福熹; 李锡善

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激光脉冲信噪比测试仪 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL94112291.3, 申请日期: 1997-11-22, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
顾冠清; 林尊琪; 陈绍和

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