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一种全站仪和摄影测量变形监测两用靶标 专利
专利号: CN201059959Y, 申请日期: 2008-05-14, 公开日期: 2008-05-14
作者:  王浩;  葛修润
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一种双面测量靶标 专利
专利号: CN2881547Y, 申请日期: 2007-03-21, 公开日期: 2007-03-21
作者:  覃卫民;  燕乔;  陈聪;  王水林
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全站仪观测点中孔双面式靶标 专利
专利号: CN2402996Y, 申请日期: 2000-10-25, 公开日期: 2000-10-25
作者:  葛修润;  王浩;  丰定祥;  任清平
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