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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 内容类型：专利    专题：苏州纳米技术与纳米仿生研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 材料界面的原位加工测试装置 专利 专利类型: 发明, 专利号: 102495237A, 申请日期: 2013-10-30, 公开日期: 2012-06-13 作者:  钟海舰;  曾雄辉;  王建峰;  刘争晖;  徐科 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2014/01/20 半导体材料表面缺陷测量装置及表面缺陷测量方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: 102495043A, 申请日期: 2013-10-30, 公开日期: 2014-01-20 作者:  刘争晖;  钟海舰;  徐科;  曾雄辉;  王建峰 收藏  |  浏览/下载：54/0  |  提交时间：2014/01/20 通用太赫兹光谱光电测试系统 专利 申请日期: 2011-01-11, 公开日期: 2011-03-16 作者:  张志鹏;  秦华;  张宝顺 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2011/03/16 一种测试双面芯片光电性能的方法及组件 专利 申请日期: 2008-08-13, 公开日期: 2010-01-14 作者:  黄寓洋;  刘楠;  张耀辉 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2010/01/14 用于检测器件封装水氧渗透指标的方法及其检测装置 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN 101949813 B, 公开日期: 2012-09-25 作者:  苏文明;  张东煜;  崔铮 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/09/25