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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：专利    专题：金属研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种测试薄膜残余应力及其沿层深分布的方法 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2006-06-28, 公开日期: 2006-06-28 孙超, 赵升升, 华伟刚, 宫骏, 杜昊, 王启民 and 李家宝 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2013/06/06