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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 学科主题：Physics    专题：高能物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Microstructure of epitaxial Er2O3 thin film on oxidized Si(111) substrate 期刊论文 CHINESE PHYSICS LETTERS, 2007, 卷号: 24, 期号: 6, 页码: 1649-1652 作者:  Xue XY(薛宪营);  Wang YZ(王玉柱);  Jia QJ(贾全杰);  Wang Y(王勇);  Chen Y(陈雨) 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2016/06/29 Studies on surface roughness and growth mechanisms of microcrystalline silicon films by grazing incidence X-ray reflectivity 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2007, 卷号: 56, 期号: 4, 页码: 2422-2427 作者:  Zhou, BQ 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2016/06/29 grazing incidence X-ray reflectivity  microcrystalline silicon film  surface roughness  growth mechanism   Microstructural features of DC sputtered vanadium oxide thin films 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2004, 卷号: 53, 期号: 6, 页码: 1956-1960 作者:  Pan MX(潘梦霄);  Cao XZ(曹兴忠);  Wang BY(王宝义);  Ma CX(马创新);  Zhou CL(周春兰) 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2016/06/29 microstructure  thin films of vanadium oxides  preferred orientation  DC magnetron sputtering   The effect of annealing temperatures on the microstructure of La0.5Ca0.5MnO3 films 期刊论文 MODERN PHYSICS LETTERS B, 2002, 卷号: 16, 期号: 27, 页码: 1049-1059 作者:  Chen, XM;  Wang, Y;  Liu, CX;  Zhao, YN;  Li, M 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2016/06/29 microstructure  annealing  strain   The effect of film thickness on the microstructure of La0.5Ca0.5MnO3 films 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS B, 2002, 卷号: 16, 期号: 23, 页码: 3439-3447 作者:  Chen, XM;  Wang, Y;  Liu, CX;  Zhao, YN;  Mai, ZH 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2016/06/29 microstructure  surface  interface