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金属研究所 [5]
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期刊论文 [5]
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2018 [3]
2017 [2]
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学科主题:Materials Science, Multidisciplinary
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Mechanism of improved electromigration reliability using Fe-Ni UBM in wafer level package
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 1305-1314
作者:
Gao, LY
;
Zhang, H
;
Li, CF
;
Guo, JD
;
Liu, ZQ
收藏
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2018/12/25
Fe-Ni under bump metallization (UBM)
Intermetallic compounds (IMCs)
Electromigration (EM)
Diffusion
Vacancy formation
Tool wear performance and surface integrity studies for milling DD5 Ni-based single crystal superalloy
期刊论文
SCIENCE CHINA-TECHNOLOGICAL SCIENCES, 2018, 卷号: 61, 期号: 4, 页码: 522-534
作者:
Gong, YD
;
Li, Q
;
Li, JG
;
Liu, Y
;
Sun, Y
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
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提交时间:2018/06/05
Minimum Quantity Lubrication
Nickel-based Superalloy
Inconel 718
Cutting Forces
Alloys
Dry
Mechanisms
Life
Failure behavior of flip chip solder joint under coupling condition of thermal cycling and electrical current
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2018, 卷号: 29, 期号: 6, 页码: 5025-5033
作者:
Zhu, QS
;
Gao, F
;
Ma, HC
;
Liu, ZQ
;
Guo, JD
收藏
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浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2018/06/05
Stress-relaxation
Void Formation
Electromigration
Reliability
Sn
Interconnections
Thermomigration
Metallization
Mechanisms
Diffusion
The creep deformation and fracture behaviors of nickel-base superalloy M951G at 900 degrees C
期刊论文
ELSEVIER SCIENCE SA, 2017, 卷号: 707, 页码: 383-391
作者:
Cui, Luqing
;
Su, Huhu
;
Yu, Jinjiang
;
Liu, Jinlai
;
Jin, Tao
收藏
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2018/01/10
M951g Alloy
Stress Level
Creep Behavior
Deformation Mechanism
Creep Fracture Mode
Failure Mechanisms of SAC/Fe-Ni Solder Joints During Thermal Cycling
期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, 2017, 卷号: 46, 期号: 8, 页码: 5338-5348
Gao, Li-Yin
;
Liu, Zhi-Quan
;
Li, Cai-Fu
收藏
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2017/08/17
Fe-Ni under bump metallization (UBM)
thermal cycling
microstructural evolution
lifetime
recrystallization
electron backscatter diffraction (EBSD)
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