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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：Engineering     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Comprehensive Study on the Total Dose Effects in a 180-nm CMOS Technology 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2011, 卷号: 58, 期号: 3, 页码: 1347-1354 Hu,ZY; Liu,ZL; Shao,H; Zhang,ZX; Ning,BX; Chen,M; Bi,DW; Zou,SC 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2012/04/10 IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC