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上海微系统与信息技术... [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2010 [2]
学科主题
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Carrier Profiling of Individual Si Nanowires by Scanning Spreading Resistance Microscopy
期刊论文
NANO LETTERS, 2010, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 171-175
Ou,X
;
DasKanungo,P
;
Kogler,R
;
Werner,P
;
Gosele,U
;
Skorupa,W
;
Wang,X
收藏
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浏览/下载：14/0
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提交时间：2012/03/24
SILICON NANOWIRES
PILE-UP
PHOSPHORUS
IMPURITIES
INTERFACE
TRANSPORT
GERMANIUM
DENSITY
Three-Dimensional Carrier Profiling of Individual Si Nanowires by Scanning Spreading Resistance Microscopy
期刊论文
ADVANCED MATERIALS, 2010, 卷号: 22, 期号: 36, 页码: 4020-4024
Ou, X
;
Das Kanungo, P
;
Kogler, R
;
Werner, P
;
Gosele, U
;
Skorupa, W
;
Wang, X
收藏
|
浏览/下载：63/0
|
提交时间：2011/12/17
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
SILICON NANOWIRES
ELECTRICAL-PROPERTIES
SURFACE SEGREGATION
DIAMOND TIPS
GROWTH
RESOLUTION
GERMANIUM
DENSITY
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