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一种F-P滤光器腔长检测系统及检测方法 专利
专利号: ZL202310400552.0, 申请日期: 2023-07-07, 公开日期: 2023-07-07
作者:  马琳;  金振宇;  朱槿;  常亮
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一种全天域高光谱成像仪光学系统 专利
专利号: ZL202121534116.5, 申请日期: 2022-06-21, 公开日期: 2022-06-21
作者:  钟悦;  徐稚
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