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Study on Optical Properties of Type-II SnO2/ZnS Core/Shell Nanowires 期刊论文
journal of physical chemistry c, 2011, 卷号: 115, 期号: 15, 页码: 7225-7229
作者:  Li JB
收藏  |  浏览/下载：38/2  |  提交时间：2011/07/05
Distribution of dislocations in GaSb and InSb epilayers grown on GaAs (001) vicinal substrates 期刊论文
journal of applied physics, 2009, 卷号: 105, 期号: 9, 页码: art. no. 094903
Li MC; Qiu YX; Liu GJ; Wang YT; Zhang BS; Zhao LC
收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2010/03/08
Enhancement of conductivity and transmittance of ZnO films by post hydrogen plasma treatment 期刊论文
journal of applied physics, 2009, 卷号: 105, 期号: 8, 页码: art. no. 083713
作者:  Zhang XW;  You JB;  Yin ZG
收藏  |  浏览/下载：71/1  |  提交时间：2010/03/08
Strain and magnetic anisotropy of as-grown and annealed Fe films on c(4x4) reconstructed GaAs (001) surface 期刊论文
journal of applied physics, 2009, 卷号: 106, 期号: 1, 页码: art. no. 013911
作者:  Chen L
收藏  |  浏览/下载：79/0  |  提交时间：2010/03/08
Anisotropic strain relaxation of thin Fe film on c(4 x 4) reconstructed GaAs (001) surface 期刊论文
physica e-low-dimensional systems & nanostructures, 2009, 卷号: 42, 期号: 2, 页码: 150-153
作者:  Chen L;  Zhang XH
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2010/04/04
Role of edge dislocation and Si impurity in linking the blue luminescence and yellow luminescence in n-type GaN films 期刊论文
applied physics letters, 2009, 卷号: 95, 期号: 4, 页码: art. no. 041901
作者:  Yang H;  Wang H;  Wang H;  Wang YT;  Yang H
收藏  |  浏览/下载：64/1  |  提交时间：2010/03/08
Raman and infrared properties and layer dependence of the phonon dispersions in multilayered graphene 期刊论文
physical review b, 2008, 卷号: 77, 期号: 23, 页码: art. no. 235421
Jiang, JW; Tang, H; Wang, BS; Su, ZB
收藏  |  浏览/下载：73/11  |  提交时间：2010/03/08
Effect of Interface Roughness and Dislocation Density on Electroluminescence Intensity of InGaN Multiple Quantum Wells 期刊论文
chinese physics letters, 2008, 卷号: 25, 期号: 11, 页码: 4143-4146
Zhao, DG; Jiang, DS; Zhu, JJ; Liu, ZS; Zhang, SM; Wang, YT; Yang, H
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2010/03/08
Interfaces in heterostructures of AlInGaN/GaN/Al2O3 期刊论文
superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 429-435
Zhou SQ; Wu MF; Yao SD; Liu JP; Yang H
收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2010/04/11
Thickness measurement of GaN epilayer using high resolution X-ray diffraction technique 期刊论文
science in china series g-physics astronomy, 2003, 卷号: 46, 期号: 4, 页码: 437-440
作者:  Zhao DG
收藏  |  浏览/下载：199/6  |  提交时间：2010/08/12

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